葉片光譜探測儀 CI-710
非常便攜，適合於室內或野外使用
非破壞性精密地測量葉片在400~1000nm波長範圍內的反射率、透射率和吸收率
掃描速度快，靈敏度高
USB介面連接UMPC資料處理終端
樣品類型，葉片或扁平的物體
測量方式：非破壞性測量葉片
測量光譜：葉片透射、吸收和反射光譜
樣品類型：葉片或扁平的物體
檢測器：CCD線性陣列探測器
掃描波長範圍：400～1000 nm
採樣速度：3.8ms-10s
光偏離：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
解析度：0.3～10.0nm FWHM
採樣直徑：7.6 mm
線性修正：>99.8%
配有CI-700LP葉夾
尺寸：891mm * 633mm * 344 mm
重量：290g
